13 Patents
- 0 cites
- US125468002026Automated Landing Method of a Scanning Probe Microscopy System and Scanning Probe Microscopy System Using the Same
Nearfield Instruments B.V.
0 cites - US125298762026Compact Optical Microscope, Metrology Device Comprising the Optical Microscope and a Wafer Positioning Metrology Apparatus Comprising the Metrology Device
Nearfield Instruments B.V.
0 cites - US124294962025Arrangement for and Method of Determining Cantilever Deflection in a Scanning Probe Microscopy System
Nearfield Instruments B.V.
0 cites - US123460362025Alignment System and Method for Aligning an Object Having an Alignment Mark
Nearfield Instruments B.V.
0 cites - US121691872024Method of and System for Performing Subsurface Imaging Using Vibration Sensing
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US119773372024Lithographic Patterning Method
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US119404162024Heterodyne Scanning Probe Microscopy Method and System
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US117743812023Method for Measuring Damage of a Substrate Caused by an Electron Beam
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US116502242023Method of Positioning a Carrier on a Flat Surface, and Assembly of a Carrier and a Positioning Member
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast- Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US116444812023Atomic Force Microscopy Cantilever, System and Method
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-nataurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US116354482023Heterodyne Scanning Probe Microscopy Method and Scanning Probe Microscopy System
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites - US115924602023Scanning Probe Microscope, Scan Head and Method
Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO
0 cites